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日本 humo 絕緣測試壓力計 HIT-250使用內(nèi)置電源時，可以在最大 250V 的電壓下進行絕緣測試；使用外部電源時，可以在最大 1kV 的電壓下進行絕緣測試。即使是2端子連接也可以進行接觸檢查。無需使用外部開關(guān)繼電器即可測量晶體端子之間的絕緣以及封裝與端子之間的絕緣。
產(chǎn)品型號：HIT-250廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2024-08-19訪 問 量：510
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日本 humo 絕緣測試壓力計 HIT-250
使用內(nèi)置電源時，可以在最大 250V 的電壓下進行絕緣測試；使用外部電源時，可以在最大 1kV 的電壓下進行絕緣測試。即使是2端子連接也可以進行接觸檢查。無需使用外部開關(guān)繼電器即可測量晶體端子之間的絕緣以及封裝與端子之間的絕緣。
基本規(guī)格
通道數(shù)1
輸出電壓 輸入外部電源時DC1 至 250V ±1%±0.3V DC1 至 1kV 5mA max
測量時間 50ms～9999ms
充電電流 5mA±2mA
測量精度
根據(jù)流過被測物的電流，范圍如下
： 100pA～1nA：±10%
1mA～10nA：±3%
10nA～100μA：±1%
-----------------------------------------------
接觸檢測范圍0.1pF以上
接觸檢測頻率1.9MHz～2.1MHz
日本 humo 絕緣測試壓力計 HIT-250
使用內(nèi)置電源時，可以在最大 250V 的電壓下進行絕緣測試；使用外部電源時，可以在最大 1kV 的電壓下進行絕緣測試。即使是2端子連接也可以進行接觸檢查。無需使用外部開關(guān)繼電器即可測量晶體端子之間的絕緣以及封裝與端子之間的絕緣。
基本規(guī)格
通道數(shù)1
輸出電壓 輸入外部電源時DC1 至 250V ±1%±0.3V DC1 至 1kV 5mA max
測量時間 50ms～9999ms
充電電流 5mA±2mA
測量精度
根據(jù)流過被測物的電流，范圍如下
： 100pA～1nA：±10%
1mA～10nA：±3%
10nA～100μA：±1%
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接觸檢測范圍0.1pF以上
接觸檢測頻率 1.9MHz～2.1MHz
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